Defectele ce apar în circuite pot fi: permanente ("permanent fault") ş 13113t195n ;i intermitente ("intermitent fault"). Defectele intermitente se manifesta instabil în timp; efectele lor nu sunt reproductibile. Defecte intermitente mai des întâlnite sunt contactele intermitente si influentele perturbatiilor externe, inductive sau capacitive.

Cercetarea sistematica a defectelor intermitente în circuite este foarte   dificila din cauza ireproductibilitatii acestor defecte. Unele principii de detectare a lor reies din repetarea permanenta a testelor pentru defecte permanente, planurile de inspectie determinându-se cu ajutorul unor modele statistice.

Trebuie remarcat ca trecerea de la defecte intermitente la defecte permanente este continua: defecte intermitente cauzeaza deseori, în cele din urma, defecte permanente; pe de alta parte, defectele intermitente pot fi considerate ca defecte permanente pe durata aparitiei lor (exemplu: contactele intermitente).

Tabelul 1 prezinta o clasificare generala a defectelor.

Clasificarea defectelor ce pot apare în circuite digitale

conductoare întrerupte;

scurtcircuit între un conductor de semnal si un conductor de alimentare;

lipituri "reci";

distrugerea unor componente.

Toate aceste defecte se vor numi, în continuare, "defecte de conectare" ("stuck-at faults").

Definitie: Defectele de conectare sunt defectele logice care se manifesta ca si cum intrari sau iesiri ale unor componente ar fi conectate permanent la tensiunea "0" sau "1".

Descrierea unui defect de conectare la intrarea sau iesirea unei componente se face cu ajutorul unei functii de eroare speciale, pentru variabila alocata z_k:

a)     pentru defectul "z_k mereu în 0":

z_k=h_k(X)=fⁿ=functia nula;

b)    pentru defectul "z_k mereu în 1":

z_k=h_k(X)=f^e=functia unitate.

În continuare, în întreg capitolul introductiv si în capitolul 1 se vor folosi notatiile:

a)     în loc de z_k=fⁿ: <z_k/0>

b)    în loc de z_k=f^e: <z_k/1>

II.        Defecte de scurtcircuit

În aceasta categorie se cuprind doar scurtcircuitele între doua conductoare de semnal (scurtcircuitele între un conductor de alimentare si unul de semnal se considera defecte de conectare, care s-au studiat în subparagraful I ).

Dupa cum scurtcircuitul are tensiunea dominanta "0" (o tensiune nula si o tensiune unitara conduc, la scurtcircuit, la o tensiune nula) sau "1" (tensiunea egala cu 0 si cea egala cu 1, creeaza, prin scurtcircuit, o tensiune "1"), scurtcircuitul va corespunde conectarii de tip AND (sI), respectiv OR (SAU), a variabilelor afectate de scurtcircuit ("wired AND", respectiv "wired OR"). Care din cele doua valori va domina în cazul scurtcircuitului, depinde de parametrii tehnologici ai familiei de circuite folosite si de alocarea valorilor 0, respectiv 1, domeniilor de tensiune.

Fie z_ki(i=)=variabile afectate de scurtcircuit;

g_ki(i=)=functiile standard ale variabilelor z_ki în cadrul functionarii corecte.

Fie: k1, ...,km, ...,kn n

n= numarul variabilelor interne z_k; (k=); .

Cu notatiile anterioare aste valabila definitia urmatoare:

Definitie: 1) Efectul unui scurtcircuit AND între variabilele z_ki (i=) se manifesta astfel încât functia de eroare h_ki(X), (i=) este egala cu conjunctia functiilor standard g_kj(X), (j=), pentru toate variabilele z_ki;

") z_ki, cu disjunctia functiilor standard g_kj(X), (j=):

A)      

B)       .

Prin interventii în circuit (introducerea de puncte de test pentru supravegherea valorii semnalelor interne) defectele necritice pot deveni critice. Însa aceste puncte suplimentare de test cresc numarul de variabile de iesire (la testarea circuitului nu mai trebuie considerate cele n iesiri, ci n+p iesiri, unde p=numarul punctelor suplimentare de test). Prin urmare, iesirile initiale si noile puncte de test nu trebuie tratate separat în procesul testarii. Se pot crea chiar algoritmi de plasare ideala a punctelor suplimentare de test.