Defectele ce apar īn circuite pot fi: permanente ("permanent fault") ş 13113t195n ;i intermitente ("intermitent fault"). Defectele intermitente se manifesta instabil īn timp; efectele lor nu sunt reproductibile. Defecte intermitente mai des īntālnite sunt contactele intermitente si influentele perturbatiilor externe, inductive sau capacitive.

Cercetarea sistematica a defectelor intermitente īn circuite este foarte   dificila din cauza ireproductibilitatii acestor defecte. Unele principii de detectare a lor reies din repetarea permanenta a testelor pentru defecte permanente, planurile de inspectie determināndu-se cu ajutorul unor modele statistice.

Trebuie remarcat ca trecerea de la defecte intermitente la defecte permanente este continua: defecte intermitente cauzeaza deseori, īn cele din urma, defecte permanente; pe de alta parte, defectele intermitente pot fi considerate ca defecte permanente pe durata aparitiei lor (exemplu: contactele intermitente).

Tabelul 1 prezinta o clasificare generala a defectelor.

Clasificarea defectelor ce pot apare īn circuite digitale

conductoare īntrerupte;

scurtcircuit īntre un conductor de semnal si un conductor de alimentare;

lipituri "reci";

distrugerea unor componente.

Toate aceste defecte se vor numi, īn continuare, "defecte de conectare" ("stuck-at faults").

Definitie: Defectele de conectare sunt defectele logice care se manifesta ca si cum intrari sau iesiri ale unor componente ar fi conectate permanent la tensiunea "0" sau "1".

Descrierea unui defect de conectare la intrarea sau iesirea unei componente se face cu ajutorul unei functii de eroare speciale, pentru variabila alocata z_k:

a)     pentru defectul "z_k mereu īn 0":

z_k=h_k(X)=fⁿ=functia nula;

b)    pentru defectul "z_k mereu īn 1":

z_k=h_k(X)=f^e=functia unitate.

Īn continuare, īn īntreg capitolul introductiv si īn capitolul 1 se vor folosi notatiile:

a)     īn loc de z_k=fⁿ: <z_k/0>

b)    īn loc de z_k=f^e: <z_k/1>

II.        Defecte de scurtcircuit

Īn aceasta categorie se cuprind doar scurtcircuitele īntre doua conductoare de semnal (scurtcircuitele īntre un conductor de alimentare si unul de semnal se considera defecte de conectare, care s-au studiat īn subparagraful I ).

Dupa cum scurtcircuitul are tensiunea dominanta "0" (o tensiune nula si o tensiune unitara conduc, la scurtcircuit, la o tensiune nula) sau "1" (tensiunea egala cu 0 si cea egala cu 1, creeaza, prin scurtcircuit, o tensiune "1"), scurtcircuitul va corespunde conectarii de tip AND (sI), respectiv OR (SAU), a variabilelor afectate de scurtcircuit ("wired AND", respectiv "wired OR"). Care din cele doua valori va domina īn cazul scurtcircuitului, depinde de parametrii tehnologici ai familiei de circuite folosite si de alocarea valorilor 0, respectiv 1, domeniilor de tensiune.

Fie z_ki(i=)=variabile afectate de scurtcircuit;

g_ki(i=)=functiile standard ale variabilelor z_ki īn cadrul functionarii corecte.

Fie: k1, ...,km, ...,kn n

n= numarul variabilelor interne z_k; (k=); .

Cu notatiile anterioare aste valabila definitia urmatoare:

Definitie: 1) Efectul unui scurtcircuit AND īntre variabilele z_ki (i=) se manifesta astfel īncāt functia de eroare h_ki(X), (i=) este egala cu conjunctia functiilor standard g_kj(X), (j=), pentru toate variabilele z_ki;

") z_ki, cu disjunctia functiilor standard g_kj(X), (j=):

A)      

B)       .

Prin interventii īn circuit (introducerea de puncte de test pentru supravegherea valorii semnalelor interne) defectele necritice pot deveni critice. Īnsa aceste puncte suplimentare de test cresc numarul de variabile de iesire (la testarea circuitului nu mai trebuie considerate cele n iesiri, ci n+p iesiri, unde p=numarul punctelor suplimentare de test). Prin urmare, iesirile initiale si noile puncte de test nu trebuie tratate separat īn procesul testarii. Se pot crea chiar algoritmi de plasare ideala a punctelor suplimentare de test.