Ipoteze simplificatoare pentru obtinerea testelor
Obtinerea testelor e mult simplificata daca circuitul nu poate avea mai mult decât un singur defect în orice moment. Aceasta presupunere, folosita în majoritatea metodelor de obtinere a testelor, este justificata numai când testarea este suficient de frecventa pentru ca probabilitatea producerii a mai mult decât un defect între dou& 10310j915k #259; testari sa fie neglijabil de mica cu mai multe ordine de marime mai mica decât probabilitatea producerii unui defect, si ea relativ scazuta.
De asemenea, probabilitatea producerii unui singur defect fizic care implica mai multe erori logice simultane va fi tot neglijabil de mica. Chiar în acest caz, ipoteza unui singur defect poate sa nu fie valida la testarea initiala a circuitului.
În evolutia circuitelor, de la circuitele DRL (diode-resistor logic) la DTL (diode-transisor logic), TRL (transistor-resistor logic) si TTL (transisor-transistor logic), cele mai multe defecte pot fi reprezentate printr-o intrare sau iesire a unei parti ca fiind S-a-0 sau S-a-1. Aceasta presupunere este valabila la majoritatea cazurilor discrete si integrate.
Ex. 1: Un defect mai complex care se poate analiza similar cu defectele S-a-0 si S-a-1 este reprezentat în figura 0.1. (se presupune logica pozitiva).
" valoare ar avea B.
Ex. 2: Un alt exemplu de asemenea circuit este redat în figura
0.2.
Figura 0.2.
poarta OR1 este scurtcircuitata
Ex. 4: Un exemplu de defect mai complex care nu poate fi reprezentat prin cazurile S-a-0 si S-a-1 este cel din figura 0.3:
În cazul portilor DTL-NAND în logica pozitiva, daca iesirile celor doi NAND sunt conectate împreuna din greseala, rezulta ca cele doua iesiri devin egale cu sI-ul iesirilor celor doua NAND-uri, ca în figura 0.4:
Ex. 5: Analog, scurtcircuitând iesirile de NOR-uri, realizate în logica negativa, rezulta ca cele doua iesiri (X si Y) sunt egale cu OR-ul celor doua porti NOR.
S-a constatat ca prin defectele S-a-0 si S-a-1 se pot reprezenta si o serie de alte defecte: defecte multiple, de scurtcircuit, de implantare, etc.
În plus, testând defectele prin prisma cazurilor S-a-0 si S-a-1, se defineste un numar mai usor de urmarit de efecte posibile, cu efect benefic în realizarea, mai ales, a secventelor de testare automata.
Circuitul de studiat este accesibil numai prin intrarile si iesirile sale. Eventualele puncte de testare standardizate pot fi privite ca iesiri din circuit. Alte interventii în circuit nu sunt posibile. Acest fapt este valabil atât la conexiunile de pe o placuta, cât si în interiorul componentelor integrate.
|
